現代の計測技術には、工業タスクの厳しい要求項目用に特別に設計されたレーザーを使用することがしばしば求められます。 ますます多くの半導体レーザーが可視スペクトルである緑色と青色の領域で提供されるようになり、半導体レーザーベースのモジュールがＵＶから赤外までの全範囲を担うようになっております。 いろいろなビーム成形技術を用いて特定の測定タスクに必要な特定のビームプロファイルを生み出します。
現代の計測技術には、工業タスクの厳しい要求項目用に特別に設計されたレーザーを使用することがしばしば求められます。 ますます多くの半導体レーザーが可視スペクトルである緑色と青色の領域で提供されるようになり、半導体レーザーベースのモジュールがＵＶから赤外までの全範囲を担うようになっております。 いろいろなビーム成形技術を用いて特定の測定タスクに必要な特定のビームプロファイルを生み出します。